シグマ光機

アルミ平面ミラー　λ　TFA-30C05-1

Name: アルミ平面ミラー λ TFA-30C05-1
Price: 3449 JPY
Availability: InStock

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特徴

可視域から近赤外域までの高い反射特性を持ち、角度依存性もほとんどありません。可視域での反射率が最大になるようMgF2（フッ化マグネシウム）をオーバーコートしています。

仕様

材質：硼珪酸ガラス（アルミニウム膜＋MgF2コーティング）公差：大きさ／0～-0.1mm、厚さ／±0.1mm基板面精度測定法：基板をZygoレーザ干渉計システムで測定面精度測定波長：632.8nm平行度：3分以内有効面：実径の90％スクラッチ-ディグ：40-20型番：TFA-30C05-1サイズ（mm）：φ30×5t基板面精度：λ

型番：

TFA-30C05-1

荷姿サイズ：

W:65 D:95 H:30 mm
0.04kg

商品コード：

1-5592-06
入り数：

1個

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材質：硼珪酸ガラス（アルミニウム膜＋MgF2コーティング）公差：大きさ／0～-0.1mm、厚さ／±0.1mm基板面精度測定法：基板をZygoレーザ干渉計システムで測定面精度測定波長：632.8nm平行度：3分以内有効面：実径の90％スクラッチ-ディグ：40-20型番：TFA-25C05-1サイズ（mm）：φ25×5t基板面精度：λ

商品コード: 1-5592-01

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材質：硼珪酸ガラス（アルミニウム膜＋MgF2コーティング）公差：大きさ／0～-0.1mm、厚さ／±0.1mm基板面精度測定法：基板をZygoレーザ干渉計システムで測定面精度測定波長：632.8nm平行度：3分以内有効面：実径の90％スクラッチ-ディグ：40-20型番：TFA-25C05-4サイズ（mm）：φ25×5t基板面精度：λ/4

商品コード: 1-5592-02

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材質：硼珪酸ガラス（アルミニウム膜＋MgF2コーティング）公差：大きさ／0～-0.1mm、厚さ／±0.1mm基板面精度測定法：基板をZygoレーザ干渉計システムで測定面精度測定波長：632.8nm平行度：3分以内有効面：実径の90％スクラッチ-ディグ：40-20型番：TFA-30C05-10サイズ（mm）：φ30×5t基板面精度：λ/10

商品コード: 1-5592-08

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材質：硼珪酸ガラス（アルミニウム膜＋MgF2コーティング）公差：大きさ／0～-0.1mm、厚さ／±0.1mm基板面精度測定法：基板をZygoレーザ干渉計システムで測定面精度測定波長：632.8nm平行度：3分以内有効面：実径の90％スクラッチ-ディグ：40-20型番：TFA-30C05-20サイズ（mm）：φ30×5t基板面精度：λ/20